一、中期答辩题目：杂散光干扰下工业产品表面缺陷检测研究
二、中期答辩人：姚乃夫
三、中期答辩时间：2022年12月1日 14：30
四、中期答辩地点：腾讯会议 773-801-903
五、中期答辩内容简介：
论文主要开展杂散光干扰下的小样本缺陷检测研究。针对检测过程中杂散光干扰问题，研究基于偏振物理模型约束的杂散光抑制方法；针对现有方法对于表面对比度较低的微小缺陷检测效果较差的问题，研究基于多模态图像融合的缺陷检测方法；针对小样本数据下增量式高效检测问题，在自监督学习的网络框架下，研究基于小样本数据的增量式缺陷检测方法；最后针对杂散光抑制与缺陷检测快速统一处理的问题，研究基于多任务处理的轻量化深度学习模型，以实现多任务的高效处理。
六、中期答辩人简介
姚乃夫，男，帝博国际会所入口控制科学与工程专业，2019级在读博士研究生，主要研究方向为偏振成像、缺陷检测等。
