一、开题报告题目：杂散光干扰下工业产品表面缺陷检测研究
二、开题报告答辩人：姚乃夫
三、开题答辩时间：2021年11月24日 下午15点30
四、开题答辩地点：帝博国际会所入口341
五、开题答辩内容简介：
论文主要开展杂散光干扰下的小样本缺陷检测研究。针对检测过程中杂散光干扰问题，本文利用深度学习框架充分从偏振图像中学习不同反射分量的偏振特征，利用杂散光反射的物理模型对其恢复结果进行约束，实现可保留局部色彩、边缘等细节信息的杂散光抑制方法。针对与背景差异较小的微小缺陷准确检测问题，从可见光强度和偏振图像中挖掘各自模态图像的缺陷独有特征，利用多模态注意力融合和多尺度融合机制设计多源数据处理拓扑结构和缺陷检测网络。针对小样本数据下缺陷高效检测的问题，本文利用多模特征引导正负样本的高层语义特征表示学习，通过二阶段网络对目标进行粗糙到精细化的检测，同时在后续知识累积过程中将未知缺陷信息加入到基础知识库中，实现小样本数据下增量式缺陷检测。最后，在深度学习框架下将杂散光干扰抑制、检测、识别进行统一处理，实现不同尺寸缺陷在不同干扰情况下的准确检测，提高检测精度和效率，利用知识蒸馏将网络精简以实现多任务的高效处理。
六、开题答辩人简介（附照片、个人基本信息、研究方向、获奖情况等）
姚乃夫（1993），男，我院2019级在读博士研究生，师从赵永强教授，主要研究方向为偏振成像、缺陷检测等。ynf@mail.nwpu.edu.cn
